Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /

Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphov: Velarde Gonzalez, Fabio Alberto (autor)
Materialtyp: Avhandling Bok
Språk:engelska
Utgiven: Guadalajara, México : edición de autor, 2019
Ämnen:
Länkar:Ver documento en línea
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!