Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments /
Tesis que estudia los interfaces de tres fabricantes de automatización de diseño electrónico con el objetivo de demostrar la posibilidad de lograr resultados consistentes en la simulación de su envejecimiento y degradación; para ello se hace una comparación con la degradación de los transistores.
Sparad:
| Huvudupphov: | |
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| Materialtyp: | Avhandling Bok |
| Språk: | engelska |
| Utgiven: |
Guadalajara, México :
edición de autor,
2019
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| Ämnen: | |
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