VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability /
Contenido: 1) Introducción; 2) Diseño para verificar; 3) Lógica y falla de simulación; 4) Generación de prueba; 5) Lógica integrada; 6) Pruebas de compresión; 7) Diagnóstico lógico; 8) Prueba y ensamblado de memoria; 9) Diagnóstico de memoria y auto-reparación; 10) Escaneo del contorno y núcleo de p...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | , |
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
San Francisco, EUA :
Morgan Kaufmann,
2006, c2006
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| Edice: | (The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon)
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| Témata: | |
| Tagy: |
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|
MARC
| LEADER | 00000nam^a2200000^a^4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000287881 | ||
| 005 | 20250521000000.0 | ||
| 009 | 20260310111852.151 | ||
| 020 | |a 978-0-12-370597-6 | ||
| 020 | |a 0-12-370597-5 | ||
| 037 | |a Acervo ITESO - Biblioteca | ||
| 041 | |a ING | ||
| 082 | |a 621. 395 |b WAN | ||
| 100 | |a Wang, Laung-Terng |e (ed.) | ||
| 245 | 1 | 0 | |a VLSI Test Principles and Architectures : |b Design for Testability / |c Ed. de L.T. Wang, C.W. Wu, X. Wen. |
| 264 | 4 | |a San Francisco, EUA : |b Morgan Kaufmann, |c 2006, c2006 | |
| 300 | |a XXX, 777 p. | ||
| 336 | |a texto |b txt |2 rdacontenido | ||
| 337 | |a sin mediación |b n |2 rdamedio | ||
| 338 | |a volumen |b nc |2 rdasoporte | ||
| 440 | 4 | |a (The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon) | |
| 520 | |a Contenido: 1) Introducción; 2) Diseño para verificar; 3) Lógica y falla de simulación; 4) Generación de prueba; 5) Lógica integrada; 6) Pruebas de compresión; 7) Diagnóstico lógico; 8) Prueba y ensamblado de memoria; 9) Diagnóstico de memoria y auto-reparación; 10) Escaneo del contorno y núcleo de prueba; 11) Prueba de señales mixtas y análogas; 12) Tendencias de de pruebas tecnológica en la era nanométrica. | ||
| 649 | |a XX | ||
| 650 | |a VLSI - |x Prueba y Medición - |x Tema Principal | ||
| 650 | |a VLSI - |x Diseño y Construcción - |x Tema Principal | ||
| 650 | |a Electrónica Digital | ||
| 650 | |a Ingeniería Electrónica | ||
| 700 | |a Wu, Cheng-Wen |e (edición) | ||
| 700 | |a Wen, Xiaoqing |e (edición) | ||
| 910 | |a Fondo General | ||
| 920 | |a Impresos - Libros | ||
| 930 | |a Colección General | ||
| 905 | |a 101 | ||
| 901 | |a 0500174742 |b IT1 |c ACC |i 000054 |u 20250521 | ||
| 902 | |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000287881 | ||