VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability - Wang, Laung-Terng ((The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon))
Contenido: 1) Introducción; 2) Diseño para verificar; 3) Lógica y falla de simulación; 4) Generación de prueba; 5) Lógica integrada; 6) Pruebas de compresión; 7) Diagnóstico lógico; 8) Prueba y ensamblado de memoria; 9) Diagnóstico de memoria y auto-reparación; 10) Escaneo del contorno y núcleo de prueba; 11) Prueba de señales mixtas y análogas; 12) Tendencias de de pruebas tecnológica en la era nanométrica.