Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques /

Contenido: 1) Introducción a la ingeniería de prueba de circuitos integrados; 2) Procesos de fabricación de circuitos integrados; 3) Prueba de lógica digital; 4) Prueba de memoria; 5) Prueba análoga; 6) Prueba de señal mixta; 7) Prueba de entrada-salida; 8) Diseño de pruebas, Aproximación a la prueb...

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Podrobná bibliografie

Hlavní autor:	Grout, Ian A. (autor)
Médium:	Kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Londres, Inglaterra : Springer, 2006, c2006
Témata:	Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal Circuitos Electrónicos Microelectrónica Ingeniería Electrónica
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!