Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si.N. Interfaces /
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Materyal Türü: | Kitap |
| Dil: | İngilizce |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Nueva York, EUA :
Springer,
2011, c2011
|
| Seri Bilgileri: | (Springer Theses)
|
| Online Erişim: | Ver documento en línea |
| Etiketler: |
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|