Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization : Atomic-Scale Structure Determination /
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | كتاب |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2002, c2002
|
| سلاسل: | (Springer Tracts in Modern Physics)
|
| الوصول للمادة أونلاين: | Ver documento en línea |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|