Weronika Walkosz. Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si.N. Interfaces. Springer.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita estilo Chicago (17a ed.)
Weronika Walkosz. Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si.N. Interfaces. Nueva York, EUA: Springer.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita MLA (9a ed.)
Weronika Walkosz. Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si.N. Interfaces. Springer.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.