Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces /
Spremljeno u:
| Glavni autor: | |
|---|---|
| Format: | Knjiga |
| Jezik: | engleski |
| Izdano: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2012, c2012
|
| Serija: | (Springer Series in Surface Sciences)
|
| Online pristup: | Ver documento en línea |
| Oznake: |
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|