Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces /
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2012, c2012
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| Schriftenreihe: | (Springer Series in Surface Sciences)
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| Online-Zugang: | Ver documento en línea |
| Tags: |
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