Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2012, c2012
|
| Edice: | (Springer Series in Surface Sciences)
|
| On-line přístup: | Ver documento en línea |
| Tagy: |
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
| Fyzický popis: | 1 libro electrónico en línea (XIV, 334 p.) 1 recurso en línea |
|---|---|
| ISBN: | 978-3-642-22566-6 |
| ISSN: | 2198-4743 |
| Přístup: | Licencias ilimitadas |