Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces /
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2012, c2012
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| Colección: | (Springer Series in Surface Sciences)
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| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
| Etiquetas: |
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