Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials : Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Algarve, Portugal, 1 - 13 October 2002 /
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
Dordrecht, Holanda :
Springer,
2005, c2005
|
| Sarja: | (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry)
|
| Linkit: | Ver documento en línea |
| Tagit: |
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Lisää ensimmäinen kommentti!