Physical Limitations of Semiconductor Devices /
Contenido: 1) Fallas en dispositivos semiconductores; 2) Bases teóricas de inestabilidad de corriente en estructuras de transistores; 3) Mecanismos de inestabilidad térmica; 4) Inestabilidad de corriente isotérmica en silicones BJT y MOSFETs; 5) Inestabilidad isotérmica en componentes de dispositivo...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | كتاب |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Nueva York, EUA :
Springer,
2008, c2008
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| رقم الاستدعاء: |
621. 38152 VAS
|
||
|---|---|---|---|
| Ejemplar 0500174757 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
|
المجموعة:
Colección General
|
ملاحظات:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
|