Physical Limitations of Semiconductor Devices /

Contenido: 1) Fallas en dispositivos semiconductores; 2) Bases teóricas de inestabilidad de corriente en estructuras de transistores; 3) Mecanismos de inestabilidad térmica; 4) Inestabilidad de corriente isotérmica en silicones BJT y MOSFETs; 5) Inestabilidad isotérmica en componentes de dispositivo...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Vashchenko, Vladislav A. (autor)
مؤلفون آخرون: Sinkevitch, V.F. (autor) (autor)
التنسيق: كتاب
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Nueva York, EUA : Springer, 2008, c2008
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
تفاصيل المقتنيات من IT1
رقم الاستدعاء:
621. 38152 VAS
Ejemplar 0500174757
Disponible
Préstamo 7 días a 90
المجموعة:
Colección General
ملاحظات:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General