Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization : Atomic-Scale Structure Determination /
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2002, c2002
|
| Серія: | (Springer Tracts in Modern Physics)
|
| Онлайн доступ: | Ver documento en línea |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Будьте першим, хто залишить коментар!