Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials : Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Algarve, Portugal, 1 - 13 October 2002 /
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
Dordrecht, Holanda :
Springer,
2005, c2005
|
| Seria: | (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry)
|
| Dostęp online: | Ver documento en línea |
| Etykiety: |
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Napisz pierwszy komentarz!