Metrología y sus aplicaciones /

Contenido: 1) Conceptos de Metrología; 2) Instrumentos de medición dimensional; 3) Tolerancia y mediciones; 4) Incertidumbres; 5) Bloques patrón; 6) Metrología eléctrica; Apéndice.

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Escamilla Esquivel, Adolfo (autor)
Format: Książka
Język:hiszpański
Wydane: México : Patria, 2015, c2015
Wydanie:2a edición
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!