Metrología y sus aplicaciones /

Contenido: 1) Conceptos de Metrología; 2) Instrumentos de medición dimensional; 3) Tolerancia y mediciones; 4) Incertidumbres; 5) Bloques patrón; 6) Metrología eléctrica; Apéndice.

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Escamilla Esquivel, Adolfo (autor)
Formaat: Boek
Taal:Spaans
Gepubliceerd in: México : Patria, 2015, c2015
Editie:2a edición
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Omschrijving
Samenvatting:Contenido: 1) Conceptos de Metrología; 2) Instrumentos de medición dimensional; 3) Tolerancia y mediciones; 4) Incertidumbres; 5) Bloques patrón; 6) Metrología eléctrica; Apéndice.
Fysieke beschrijving:262 p. + 1 disco compacto de computadora
publiek:2014 BO Licenciatura en Ingeniería Mecánica
ISBN:978-607-744-125-0