Metrología y sus aplicaciones /

Contenido: 1) Conceptos de Metrología; 2) Instrumentos de medición dimensional; 3) Tolerancia y mediciones; 4) Incertidumbres; 5) Bloques patrón.

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Escamilla Esquivel, Adolfo (autor)
Format: Książka
Język:hiszpański
Wydane: México : Patria, 2009, c2009
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Szczegóły zapisu IT1
Sygnatura:
530. 8 ESC
Ejemplar 0500199929
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Kolekcja:
Colección General
Komentarze:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General