Measuring Intelligence : An Explanation of and a Complete Guide for the Use of the Stanford Revision and Extension of the Binet-Simon Intelligence Scale /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Terman, Lewis M. (autor)
Kolejni autorzy: Merril, Maud A.
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Boston, EUA : Houghton Mifflin, 1937, c1937
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Szczegóły zapisu IT2
Sygnatura:
153. 93 TER
Ejemplar 013984
Interno 4 horas supervisado
Kolekcja:
Libros Antiguos y Raros