Measuring Intelligence : An Explanation of and a Complete Guide for the Use of the Stanford Revision and Extension of the Binet-Simon Intelligence Scale /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Terman, Lewis M. (autor)
Otros autores: Merril, Maud A.
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Boston, EUA : Houghton Mifflin, 1937, c1937
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