Terman, L. M., & Merril, M. A. Measuring Intelligence: An Explanation of and a Complete Guide for the Use of the Stanford Revision and Extension of the Binet-Simon Intelligence Scale. Houghton Mifflin.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
Terman, Lewis M., و Maud A. Merril. Measuring Intelligence: An Explanation of and a Complete Guide for the Use of the Stanford Revision and Extension of the Binet-Simon Intelligence Scale. Boston, EUA: Houghton Mifflin.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
Terman, Lewis M., و Maud A. Merril. Measuring Intelligence: An Explanation of and a Complete Guide for the Use of the Stanford Revision and Extension of the Binet-Simon Intelligence Scale. Houghton Mifflin.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.