Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits /
Contenido: 1. Introducción a la prueba: Proceso de prueba a integrados VLSI y equipos; Economía de prueba y calidad del producto; Modelado de errores. 2. Métodos de prueba: Simulación lógica y fallas; Pruebas de medición; Generación de pruebas a circuitos combinados; Generación de pruebas a circuito...
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Altres autors: | |
| Format: | Llibre |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Boston, EUA :
Kluwer,
2000, c2000
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| Col·lecció: | (Frontiers in Electronic Testing)
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| Matèries: | |
| Etiquetes: |
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MARC
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| 100 | |a Bushnell, Michael L. |e (autor) | ||
| 245 | 1 | 0 | |a Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits / |c M.L. Bushnell, V.D. Agrawal. |
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| 300 | |a XVIII, 690 p. | ||
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| 440 | 1 | |a (Frontiers in Electronic Testing) | |
| 520 | |a Contenido: 1. Introducción a la prueba: Proceso de prueba a integrados VLSI y equipos; Economía de prueba y calidad del producto; Modelado de errores. 2. Métodos de prueba: Simulación lógica y fallas; Pruebas de medición; Generación de pruebas a circuitos combinados; Generación de pruebas a circuitos de secuencia; Prueba de memoria; Pruebas de señales mezcladas basados en DSP análogo; Pruebas de señales mezcladas y base de modelos análogos; Prueba retrasada; Prueba IDDQ. 3. Diseño para las pruebas: Digital DFT y diseño de la exploración; Auto prueba incorporada; Estándar de la exploración del límite; Estándar análogo de la prueba del bus; Prueba del sistema y diseño del núcleo de la base (Core-Based); El futuro de las pruebas. | ||
| 649 | |a XX | ||
| 650 | |a VLSI - |x Prueba y Medición | ||
| 650 | |a Circuitos Integrados - |x Prueba y Medición | ||
| 650 | |a Circuitos Integrados - |x Diseño y Construcción - |x Tema Principal | ||
| 650 | |a Calidad del Producto | ||
| 650 | |a Semiconductores | ||
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| 650 | |a Ingeniería Electrónica | ||
| 700 | |a Agrawal, Vishwani D. |e (autor) | ||
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