Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits - Bushnell, Michael L. ((Frontiers in Electronic Testing))
Contenido: 1. Introducción a la prueba: Proceso de prueba a integrados VLSI y equipos; Economía de prueba y calidad del producto; Modelado de errores. 2. Métodos de prueba: Simulación lógica y fallas; Pruebas de medición; Generación de pruebas a circuitos combinados; Generación de pruebas a circuitos de secuencia; Prueba de memoria; Pruebas de señales mezcladas basados en DSP análogo; Pruebas de señales mezcladas y base de modelos análogos; Prueba retrasada; Prueba IDDQ. 3. Diseño para las pruebas: Digital DFT y diseño de la exploración; Auto prueba incorporada; Estándar de la exploración del límite; Estándar análogo de la prueba del bus; Prueba del sistema y diseño del núcleo de la base (Core-Based); El futuro de las pruebas.