Pattern recognition engineering /
Contenido: Introducción; Panorama del campo; Segmentación; Rasgos; Patrones y texturas; Métodos estadísticos de decisión; Decisiones óptimas de Bayes; Más allá de Bayes; Métodos lingüísticos formales; Métodos estructurales e híbridos; Técnicas de aprendizaje.
Shranjeno v:
| Glavni avtor: | |
|---|---|
| Drugi avtorji: | |
| Format: | Knjiga |
| Jezik: | angleščina |
| Izdano: |
Nueva York, EUA :
Wiley,
1992, c1992
|
| Teme: | |
| Oznake: |
Brez oznak, prvi označite!
|
MARC
| LEADER | 00000nam^a2200000^a^4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000101911 | ||
| 005 | 20250521000000.0 | ||
| 009 | 20260310093254.279 | ||
| 020 | |a 0-471-62293-1 | ||
| 037 | |a Acervo ITESO - Biblioteca | ||
| 041 | |a ING | ||
| 082 | |a 006. 4 |b NAD | ||
| 100 | |a Nadler, Morton |e (autor) | ||
| 245 | 1 | 0 | |a Pattern recognition engineering / |c M. Nadler, E.P. Smith. |
| 264 | 4 | |a Nueva York, EUA : |b Wiley, |c 1992, c1992 | |
| 300 | |a 588 p. | ||
| 336 | |a texto |b txt |2 rdacontenido | ||
| 337 | |a sin mediación |b n |2 rdamedio | ||
| 338 | |a volumen |b nc |2 rdasoporte | ||
| 520 | |a Contenido: Introducción; Panorama del campo; Segmentación; Rasgos; Patrones y texturas; Métodos estadísticos de decisión; Decisiones óptimas de Bayes; Más allá de Bayes; Métodos lingüísticos formales; Métodos estructurales e híbridos; Técnicas de aprendizaje. | ||
| 649 | |a XX | ||
| 650 | |a Reconocimiento de Patrones | ||
| 650 | |a Imagen | ||
| 650 | |a Manipulación de Imagen por Computadora | ||
| 650 | |a Multimedia | ||
| 650 | |a Gráficas por Computadora | ||
| 650 | |a Paquetes (Software) | ||
| 650 | |a Ingeniería Computacional | ||
| 700 | |a Smith, Eric P. |e (autor) | ||
| 910 | |a Fondo General | ||
| 920 | |a Impresos - Libros | ||
| 930 | |a Colección General | ||
| 905 | |a 101 | ||
| 901 | |a 0500037369 |b IT1 |c ACC |u 20250521 | ||
| 902 | |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000101911 | ||