Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures : An Analysis of Composition and Strain State /
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2003, c2003
|
| Sarja: | (Springer Tracts in Modern Physics)
|
| Linkit: | Ver documento en línea |
| Tagit: |
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Lisää ensimmäinen kommentti!