Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures : An Analysis of Composition and Strain State /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2003, c2003
|
| Edice: | (Springer Tracts in Modern Physics)
|
| On-line přístup: | Ver documento en línea |
| Tagy: |
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
| Fyzický popis: | 1 libro electrónico en línea (XII, 241 p.) 1 recurso en línea |
|---|---|
| ISBN: | 978-3-540-36407-8 |
| ISSN: | 1615-0430 |
| Přístup: | Licencias ilimitadas |