Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures : An Analysis of Composition and Strain State /
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2003, c2003
|
| Schriftenreihe: | (Springer Tracts in Modern Physics)
|
| Online-Zugang: | Ver documento en línea |
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