Frontiers in Optical Methods : Nano-Characterization and Coherent Control /

Contiene: 1) Introducción: respuesta ultrarrápida de materiales ultrafinos en superficies sólidas; 2) Análisis en tiempo real del proceso de oxidación inicial en Si(001) mediante espectroscopia de reflectancia diferencial de superficie y espectroscopia de diferencia de reflectancia; 3) Desarrollo de...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلف الرئيسي:	Shudo, Ken-ichi (edición)
مؤلفون آخرون:	Katayama, Ikufumui (edición) (edición), Ohno, Shin-ya (edición) (edición)
التنسيق:	كتاب
اللغة:	الإنجليزية
منشور في:	Heidelberg, Alemania : Springer, 2014, c2014
سلاسل:	(Springer Series in Optical Sciences ; 180)
الموضوعات:	Dispersión de la Luz Microscopio Optico Materiales Nanoestructurados Absorción de la Luz Análisis Espectroscópico Difracción Fotónica Refracción Optica - > Equipo y Aparatos Optica - > Tema Principal Radiación Sincrotrón Radiación Física
الوصول للمادة أونلاين:	Ver documento en línea
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!