Frontiers in Optical Methods : Nano-Characterization and Coherent Control /
Contiene: 1) Introducción: respuesta ultrarrápida de materiales ultrafinos en superficies sólidas; 2) Análisis en tiempo real del proceso de oxidación inicial en Si(001) mediante espectroscopia de reflectancia diferencial de superficie y espectroscopia de diferencia de reflectancia; 3) Desarrollo de...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
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| Další autoři: | , |
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Heidelberg, Alemania :
Springer,
2014, c2014
|
| Edice: | (Springer Series in Optical Sciences ;
180) |
| Témata: | |
| On-line přístup: | Ver documento en línea |
| Tagy: |
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MARC
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| 100 | |a Shudo, Ken-ichi |e (edición) | ||
| 245 | 1 | 0 | |a Frontiers in Optical Methods : |b Nano-Characterization and Coherent Control / |c Ed. de K. Shudo, I. Katayama, S. Ohno. |
| 264 | 4 | |a Heidelberg, Alemania : |b Springer, |c 2014, c2014 | |
| 264 | 2 | |a Cham, Suiza : |b Springer Link [distribución], |c 2014, c2014 | |
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| 520 | |a Contiene: 1) Introducción: respuesta ultrarrápida de materiales ultrafinos en superficies sólidas; 2) Análisis en tiempo real del proceso de oxidación inicial en Si(001) mediante espectroscopia de reflectancia diferencial de superficie y espectroscopia de diferencia de reflectancia; 3) Desarrollo de microscopio en vacío bajo alta presión y sus aplicaciones; 4) Radiación sincrotrón infrarroja y de terahercios: óptica y aplicaciones; 5) Estudios de difracción de rayos X con resolución temporal de dinámicas reticulares coherentes utilizando radiación de sincrotrón; 6) Dinámica coherente de fonones en nanotubos de carbono; 7) Generación y observación de ondas acústicas de GHz–THz en películas delgadas y microestructuras utilizando métodos ópticos; 8) Lo último en ciencia y tecnología de terahercios; 9) Espectroscopía de terahercios de banda ancha de películas delgadas; 10) Fuente de luz de terahercios basada en radiación de sincrotrón; 11) Recuento de fotones individuales y microscopía pasiva de radiación de terahercios; 12) Evaluación de materiales con sistemas de medición óptica: centrándose en la espectroscopia de terahercios. | ||
| 649 | |a XX | ||
| 650 | |a Dispersión de la Luz | ||
| 650 | |a Microscopio Optico | ||
| 650 | |a Materiales Nanoestructurados | ||
| 650 | |a Absorción de la Luz | ||
| 650 | |a Análisis Espectroscópico | ||
| 650 | |a Difracción | ||
| 650 | |a Fotónica | ||
| 650 | |a Refracción | ||
| 650 | |a Optica - |x Equipo y Aparatos | ||
| 650 | |a Optica - |x Tema Principal | ||
| 650 | |a Radiación Sincrotrón | ||
| 650 | |a Radiación | ||
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| 700 | |a Katayama, Ikufumui |e (edición) | ||
| 700 | |a Ohno, Shin-ya |e (edición) | ||
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