Metrología y sus aplicaciones /

Contenido: 1) Conceptos de Metrología; 2) Instrumentos de medición dimensional; 3) Tolerancia y mediciones; 4) Incertidumbres; 5) Bloques patrón.

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Escamilla Esquivel, Adolfo (autor)
Format: Llibre
Idioma:espanyol
Publicat: México : Patria, 2009, c2009
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Detall dels fons de IT1
Signatura:
530. 8 ESC
Ejemplar 0500199929
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Col·lecció:
Colección General
Notes:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General