Metrología y sus aplicaciones /

Contenido: 1) Conceptos de Metrología; 2) Instrumentos de medición dimensional; 3) Tolerancia y mediciones; 4) Incertidumbres; 5) Bloques patrón.

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Escamilla Esquivel, Adolfo (autor)
Format: Buch
Sprache:Spanisch
Veröffentlicht: México : Patria, 2009, c2009
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