Yield and Reliability in Microwave Circuits and System Design /

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Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Meehan, Michael D. (autor)
Άλλοι συγγραφείς:	Purviance, John (autor) (autor), Spence, Robert (prólogo) (prólogo)
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	Αγγλικά
Έκδοση:	Boston, EUA : Artech House, 1993, c1993
Σειρά:	(Artech House Microwave Library)
Θέματα:	Circuitos Integrados de Microondas - > Diseño y Construcción - > Tema Principal Diseño Asistido por Computadora Confiabilidad Diseño Industrial - > Metodología Estadística - > Metodología Ingeniería Electrónica
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

MARC


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