Yield and Reliability in Microwave Circuits and System Design /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Meehan, Michael D. (autor)
מחברים אחרים: Purviance, John (autor), Spence, Robert (prólogo)
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: Boston, EUA : Artech House, 1993, c1993
סדרה:(Artech House Microwave Library)
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
פרטי מלאי ספרים מ IT1
סימן המיקום:
621. 38132 MEE
Ejemplar 0500112865
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Colección:
Colección General
הערות:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General