Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Moyne, James (ed.)
Beste egile batzuk: Castillo, Enrique del (edición) (edición), Hurwitz, Arnon Max (edición) (edición)
Formatua: Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Boca Ratón, EUA : CRC Press, 2001, c2001
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
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MARC

LEADER 00000nam^a2200000^a^4500
001 000119143
005 20250521000000.0
009 20260310094305.92
020 |a 0-8493-1178-0 
037 |a Acervo ITESO - Biblioteca 
041 |a ING 
082 |a 621. 38152  |b MOY 
100 |a Moyne, James  |e (ed.) 
245 1 0 |a Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing /  |c Ed. de J. Moyne, E. del Castillo, A.M. Hurwitz ; introd. de J. Moyne, A.M. Hurwitz. 
264 4 |a Boca Ratón, EUA :  |b CRC Press,  |c 2001, c2001 
300 |a 348 p. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a sin mediación  |b n  |2 rdamedio 
338 |a volumen  |b nc  |2 rdasoporte 
649 |a XX 
650 |a Semiconductores 
650 |a Circuitos Electrónicos 
650 |a Diseño Industrial 
650 |a Ingeniería Electrónica 
650 |a Control de Procesos 
650 |a Proceso de Producción 
650 |a Ingeniería Industrial 
700 |a Castillo, Enrique del  |e (edición) 
700 |a Hurwitz, Arnon Max  |e (edición) 
910 |a Fondo General 
920 |a Impresos - Libros 
930 |a Colección General 
905 |a 101 
901 |a 0500053976  |b IT1  |c ACC  |u 20250521 
902 |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000119143