Machine Vision Inspection Systems : Machine Learning-Based Approaches /
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| Outros Autores: | |
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| Formato: | Livro |
| Idioma: | inglês |
| Publicado em: |
Hoboken, EUA :
Wiley,
2021, c2021
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| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | Ver documento en línea |
| Tags: |
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| Descrição Física: | 1 libro electrónico en línea (XIII, 233 p.) 1 recurso en línea |
|---|---|
| Audiência: | Wiley 2026 EEnlace Departamento de Electrónica, Sistemas e Informática |
| ISBN: | 9781119786115 |
| Acesso: | Licencias ilimitadas |