Machine Vision Inspection Systems : Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications /
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| Otros autores: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Hoboken, EUA :
Wiley,
2020, c2020
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| Temas: | |
| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
| Etiquetas: |
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