VLSI Design and Test : 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2013, c2013
|
| Edice: | (Communications in Computer and Information Science)
|
| On-line přístup: | Ver documento en línea |
| Tagy: |
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Podobné jednotky: VLSI Design and Test :
- Progress in VLSI Design and Test : 16th International Symposium on VSLI Design and Test, VDAT 2012, Shipur, India, July 1-4, 2012, Proceedings /
- VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability /
- VLSI : Technology and Design /
- The VLSI Handbook /
- Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits /
- Analog VLSI : Circuits and Principles /