New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2010, c2010
|
| Σειρά: | (Springer Series in Surface Sciences)
|
| Διαθέσιμο Online: | Ver documento en línea |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια: New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy /
- Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis /
- Scanning Transmission Electron Microscopy : Imaging and Analysis /
- Scanning Force Microscopy of Polymers /
- Acoustic Scanning Probe Microscopy /
- Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology /
- Filler-Reinforced Elastomers Scanning Force Microscopy /