Lifetime Spectroscopy : A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications /
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Materyal Türü: | Kitap |
| Dil: | İngilizce |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2005, c2005
|
| Seri Bilgileri: | (Springer Series in Materials Science)
|
| Online Erişim: | Ver documento en línea |
| Etiketler: |
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
| Fiziksel Özellikler: | 1 libro electrónico en línea (XXVI, 492 p.) 1 recurso en línea |
|---|---|
| ISBN: | 978-3-540-27922-8 |
| ISSN: | 2196-2812 |
| Erişim: | Licencias ilimitadas |