CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet : Degradation Behavior and Damage Mechanisms /
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2005, c2005
|
| Seria: | (Microtechnology and MEMS)
|
| Dostęp online: | Ver documento en línea |