Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures : Phonons, Plasmons, and Polaritons /
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2004, c2004
|
| Серии: | (Springer Tracts in Modern Physics)
|
| Online-ссылка: | Ver documento en línea |
| Метки: |
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Объем: | 1 libro electrónico en línea (XI, 196 p.) 1 recurso en línea |
|---|---|
| ISBN: | 978-3-540-44701-6 |
| ISSN: | 1615-0430 |
| Доступ: | Licencias ilimitadas |