High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers /

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Václav Holý, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach (autor)
Formato: Livro
Idioma:inglês
Publicado em: Berlín, Alemania : Springer, 1999, c1999
coleção:(Springer Tracts in Modern Physics)
Acesso em linha:Ver documento en línea