Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis /
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Berlín, Alemania :
Springer,
1998, c1998
|
| Редагування: | 2a edición |
| Серія: | (Springer Series in Optical Sciences)
|
| Онлайн доступ: | Ver documento en línea |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси: Scanning Electron Microscopy :
- Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis /
- Scanning Transmission Electron Microscopy : Imaging and Analysis /
- Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation /
- New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy /
- Scanning Force Microscopy of Polymers /
- Acoustic Scanning Probe Microscopy /