X-ray Photoelectron Spectroscopy : An introduction to Principles and Practices /
Contenido: 1. Introducción: 1.1. Análisis de superficie; 1.2. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) y espectroscopía de electrones para análisis químicos (ESCA), para análisis de superficie; 1.3. Perspectiva histórica; 1.4. Bases físicas de XPS; 1.5. Sensibilidad y especificidad de XPS;...
Kaydedildi:
| Yazar: | |
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| Materyal Türü: | Kitap |
| Dil: | İngilizce |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Hoboken, EUA :
Wiley,
2012, c2012
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| Konular: | |
| Online Erişim: | Ver documento en línea |
| Etiketler: |
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| 245 | 1 | 0 | |a X-ray Photoelectron Spectroscopy : |b An introduction to Principles and Practices / |c P. van der Heide ; pról. de John Wayne Rabalais. |
| 264 | 4 | |a Hoboken, EUA : |b Wiley, |c 2012, c2012 | |
| 264 | 2 | |a Cartagena, España : |b Odilo [distribución], |c 2021 | |
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| 520 | |a Contenido: 1. Introducción: 1.1. Análisis de superficie; 1.2. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) y espectroscopía de electrones para análisis químicos (ESCA), para análisis de superficie; 1.3. Perspectiva histórica; 1.4. Bases físicas de XPS; 1.5. Sensibilidad y especificidad de XPS; 1.6. Sumario. 2. Atomos, iones y otras estructuras electrónicas: 2.1. Atomos, iones y materia; 2.2. Sumario. 3. Instrumentación XPS: 3.1. Prerrequisitos de la XPS; 3.2. Sumario. 4. Recolección de datos y cuantificación: 4.1. Procedimientos de análisis; 4.2. Intensidades de fotoelectrones; 4.3. Información como función de profundidad; 4.4. Sumario. 5. Información espectral: 5.1. Especiación; 5.2. Sumario. 6. Algunos estudios de caso: 6.1. Panorama; 6.2. Sumario. Apéndices. | ||
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