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X-ray Photoelectron Spectroscopy : An introduction to Principles and Practices /

Contenido: 1. Introducción: 1.1. Análisis de superficie; 1.2. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) y espectroscopía de electrones para análisis químicos (ESCA), para análisis de superficie; 1.3. Perspectiva histórica; 1.4. Bases físicas de XPS; 1.5. Sensibilidad y especificidad de XPS;...

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Gardado en:
Autor Principal: Heide, Paul van der (autor)
Formato: Libro
Idioma:inglés
Publicado: Hoboken, EUA : Wiley, 2012, c2012
Temas:
Rayos X - > Tema Principal
Iones
Atomos
Masa (Física)
Soluciones (Química)
Espectrofotómetro
Espectrometría de Masas
Análisis Espectroscópico - > Tema Principal
Proceso de Datos
Radiación
Física
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Resumen:Contenido: 1. Introducción: 1.1. Análisis de superficie; 1.2. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) y espectroscopía de electrones para análisis químicos (ESCA), para análisis de superficie; 1.3. Perspectiva histórica; 1.4. Bases físicas de XPS; 1.5. Sensibilidad y especificidad de XPS; 1.6. Sumario. 2. Atomos, iones y otras estructuras electrónicas: 2.1. Atomos, iones y materia; 2.2. Sumario. 3. Instrumentación XPS: 3.1. Prerrequisitos de la XPS; 3.2. Sumario. 4. Recolección de datos y cuantificación: 4.1. Procedimientos de análisis; 4.2. Intensidades de fotoelectrones; 4.3. Información como función de profundidad; 4.4. Sumario. 5. Información espectral: 5.1. Especiación; 5.2. Sumario. 6. Algunos estudios de caso: 6.1. Panorama; 6.2. Sumario. Apéndices.
Descrición Física:1 libro electrónico en línea (264 p.)
1 recurso en línea
Público:Odilo 2021 EEnlace Departamento de Matemáticas y Física
ISBN:978-1-118-16290-3
Acceso:1 licencia

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