Applied Metrology for Manufacturing Engineering /
Contenido: 1) Fundamentos de análisis de errores y sus incertidumbres en metrología dimensional aplicada a la ciencia y la tecnología; 2) Fundamentos de tolerancias dimensionales y de forma según la norma ISO, CSA (Canadá), y ANSI (EUA); 3) Medición y control utilizando estándares lineales y angular...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | كتاب |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Londres, Inglaterra :
ISTE : Wiley,
2013, c2013
Birmingham, EUA : EBSCOhost [distribución], 2013 |
| سلاسل: | (Instrumentation and Measurement Series)
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | Ver documento en línea |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
النظام قيد الصيانة
نظام إدارة مكتبتنا قيد الصيانة حاليا.
معلومات إتاحة المواد والمقتنيات غير متاحة حاليا. الرجاء قبول اعتذارنا عن أي إزعاج قد يسببه ذلك والاتصال بنا للمزيد من المساعدة: