SAT-Based Scalable Formal Verification Solutions /

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Ganai, Malay (autor)
Outros autores:	Gupta, Aarti (autor) (autor)
Formato:	Libro
Idioma:	inglés
Publicado:	Nueva York, EUA : Springer, 2007, c2007
Series:	(Series on Integrated Circuits and Systems)
Temas:	Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal Circuitos Integrados - > Proceso de Datos Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición Ingeniería Electrónica
Etiquetas:	Engadir etiqueta Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

MARC


LEADER	00000nam^a2200000^a^4500
001	000287772
005	20250521000000.0
009	20260310111849.169
020			\|a 978-0-387-69166-4
037			\|a Acervo ITESO - Biblioteca
041			\|a ING
082			\|a 621. 381548 \|b GAN
100			\|a Ganai, Malay \|e (autor)
245	1	0	\|a SAT-Based Scalable Formal Verification Solutions / \|c M. Ganai, A. Gupta.
264		4	\|a Nueva York, EUA : \|b Springer, \|c 2007, c2007
300			\|a XXIX, 326 p.
336			\|a texto \|b txt \|2 rdacontenido
337			\|a sin mediación \|b n \|2 rdamedio
338			\|a volumen \|b nc \|2 rdasoporte
440		1	\|a (Series on Integrated Circuits and Systems)
649			\|a XX
650			\|a Circuitos Integrados - \|x Prueba y Medición - \|x Tema Principal
650			\|a Circuitos Integrados - \|x Proceso de Datos
650			\|a Circuitos Electrónicos - \|x Prueba y Medición
650			\|a Ingeniería Electrónica
700			\|a Gupta, Aarti \|e (autor)
910			\|a Fondo General
920			\|a Impresos - Libros
930			\|a Colección General
905			\|a 101
901			\|a 0500174777 \|b IT1 \|c ACC \|i 000054 \|u 20250521
902			\|a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000287772