Nanometer CMOS ICs : From Basics to ASICs /
Contenido: 1) Principios básicos; 2) Impacto geométrico, físico y de escala en el comportamiento de transistores MOS; 3) Manufactura de dispositivos MOS; 4) Circuitos CMOS; 5) Circuitos especiales, dispositivos y tecnologías; 6) Memorias; 7) VLSI (Very Large Scale Integration) y ASICs (Application-S...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Heidelberg, Alemania :
Springer,
2008, c2008
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| Témata: | |
| Tagy: |
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|
MARC
| LEADER | 00000nam^a2200000^a^4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000287724 | ||
| 005 | 20260624000000.0 | ||
| 009 | 20260713143103.791 | ||
| 020 | |a 978-1-4020-8332-7 | ||
| 037 | |a Acervo ITESO - Biblioteca | ||
| 041 | |a ING | ||
| 082 | |a 621. 395 |b VEE | ||
| 100 | |a Veendrick, Harry |e (autor) | ||
| 245 | 1 | 0 | |a Nanometer CMOS ICs : |b From Basics to ASICs / |c H. Veendrick ; pról. de Hugo de Man. |
| 264 | 4 | |a Heidelberg, Alemania : |b Springer, |c 2008, c2008 | |
| 300 | |a XXXII, 730 p. | ||
| 336 | |a texto |b txt |2 rdacontenido | ||
| 337 | |a sin mediación |b n |2 rdamedio | ||
| 338 | |a volumen |b nc |2 rdasoporte | ||
| 520 | |a Contenido: 1) Principios básicos; 2) Impacto geométrico, físico y de escala en el comportamiento de transistores MOS; 3) Manufactura de dispositivos MOS; 4) Circuitos CMOS; 5) Circuitos especiales, dispositivos y tecnologías; 6) Memorias; 7) VLSI (Very Large Scale Integration) y ASICs (Application-Specific Integrated Circuits); 8) Baja potencia, un aspecto de calor en el diseño de los circuitos integrados; 9) Fortalecimiento del diseño de CMOS nanométrico: integridad de señal, variabilidad y confianza; 10) Prueba, producción, empacamiento, depuración y análisis de fallas; 11) Efectos de escala en el diseño de circuitos integrados y consecuencias en la hoja de ruta. | ||
| 649 | |a XX | ||
| 650 | |a Transistores MOS | ||
| 650 | |a CMOS (Electrónica) - |x Tema Principal | ||
| 650 | |a Circuitos Integrados - |x Prueba y Medición | ||
| 650 | |a Circuitos Integrados - |x Tema Principal | ||
| 650 | |a Memorias (Ingeniería Computacional) | ||
| 650 | |a Electrónica Digital | ||
| 650 | |a Nanotecnología | ||
| 650 | |a Ingeniería Electrónica | ||
| 910 | |a Fondo General | ||
| 920 | |a Impresos - Libros | ||
| 930 | |a Colección General | ||
| 905 | |a 101 | ||
| 901 | |a 0500174756 |b IT1 |c ACC |i 000054 |u 20260624 | ||
| 902 | |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000287724 | ||