Digital Circuit Testing : A Guide to DFT and Other Techniques /

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Wang, Francis C. (autor)
Formato:	Libro
Idioma:	inglés
Publicado:	San Diego, EUA : Academic Press, 1991, c1991
Temas:	Circuitos Integrados Digitales - > Prueba y Medición - > Tema Principal Circuitos Integrados Electrónica Digital Ingeniería Electrónica
Etiquetas:	Engadir etiqueta Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

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