Digital Circuit Testing : A Guide to DFT and Other Techniques /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Wang, Francis C. (autor)
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: San Diego, EUA : Academic Press, 1991, c1991
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

MARC

LEADER 00000nam^a2200000^a^4500
001 000265205
005 20260624000000.0
009 20260713142516.498
020 |a 0-12-734580-9 
037 |a Acervo ITESO - Biblioteca 
041 |a ING 
082 |a 621. 3950287  |b WAN 
100 |a Wang, Francis C.  |e (autor) 
245 1 0 |a Digital Circuit Testing :  |b A Guide to DFT and Other Techniques /  |c F.C. Wang. 
264 4 |a San Diego, EUA :  |b Academic Press,  |c 1991, c1991 
300 |a XI, 233 p. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a sin mediación  |b n  |2 rdamedio 
338 |a volumen  |b nc  |2 rdasoporte 
649 |a XX 
650 |a Circuitos Integrados Digitales -  |x Prueba y Medición -  |x Tema Principal 
650 |a Circuitos Integrados 
650 |a Electrónica Digital 
650 |a Ingeniería Electrónica 
910 |a Fondo General 
920 |a Impresos - Libros 
930 |a Colección General 
905 |a 101 
901 |a 0500147721  |b IT1  |c ACC  |u 20260624 
902 |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000265205